1082_系統晶片測試
上課期間:從 即日起 到 無限期
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課程介紹

課程安排

  • 00_Overview
  • 01_Introduction
  • 02_Faul model
  • 03_Faul simulation
  • 04_Test generation
  • 04_Test generation_animation
  • 05_Testability Analysis
  • 05_Testability Analysis
  • 06_Design for testability
  • 07_BIST
  • 08_Memory testing
  • [Movie] Fault-sampling
  • [Movie]TetraMax_Fault simulation
  • [Movie] Workstation-tutorial
  • EX1_Fault simulation
  • EX2_ATPG
  • EX3_Scan-Insertion&ATPG
  • 03-1_Introduction to Workstation Environment
  • 04_Test generation_animation
  • Homework1
  • Homework2
  • Homework 3
  • Homework4
  • Ex-Homework1
  • HW1成績
  • HW1解答
  • HW2解答
  • Hw3成績
  • Hw3解答
  • Hw4成績
  • Hw4解答
  • Ex1上機成績(更新)
  • Ex2上機成績(更新)
  • Ex3上機成績
  • Midterm Examination_ref
  • EX1 files
  • EX2_files
  • EX3_files
  • Final Examination_ref
  • Bonus_Homework
  • Bonus_Homework_Ans
  • SOC Testing - 各項成績
教師 / 謝東佑
教師 / 鄭以狄
教師 / 吳閏琮

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